TEST2015　第13回総合試験機器展

トピックス

この度、当社は「TEST2015　第13回総合試験機器展」に出展いたします。

当日は品質評価に役立つ測定機器を多数展示するほか、
開催記念セミナー、出展社プレゼンテーションを下記のテーマにて発表いたします。

ご質問・ご相談等承らせていただきますので、是非当社ブースまでお越しください。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

会　期平成27年9月16日（水）～9月18（金）10：00～17：00
会　場東京ビックサイト
主　催日本試験機工業会

出展予定
カラーメーター（携帯分光） CC-m・CC-m45
カラーメーター（分光） CC-iS
カラーメーター（分光白色度） CC-iW
ヘーズメーター HZ-V3
写像性測定器 ICM-1T
携帯グロスメーター GC-1

開催記念セミナー
「屋外暴露と各種促進耐候性試験の相関性評価」
日時：9月17日(木)　11:45~12:30
会場：特設会場D　開催記念セミナー会場
聴講料：無料(事前申込制)　
定員：100 名

出展社プレゼンテーション
「光学特性の評価像鮮明度と光沢、ヘーズ」
日時：9月18日(金)　11:45~12:30
会場：特設会場C　出展社プレゼンテーション会場
聴講料：無料(当日受付)
定員：50 名

多くのお客様にご来場頂きありがとうございました。
厚く御礼申し上げます。