促進耐候性試験機・腐食促進試験機・精密光学測定機器（分光測色計/色差計/光沢計/ヘーズメーター等）の専門メーカー

会　 期
　平成25年2月14日（木）10：00～16：30

会　 場 　ラフレさいたま
主　 催　 　早坂理工株式会社
参加費 　無料

出展製品 　Colour Cute i CC-i （測色計）
　ヘーズメーター HZ-V3　
　Colour Cute mobile CC-m （携帯分光測色計）
　Gloss Mobile GM-1　（携帯光沢計）

出展企業によるセミナーに参加致します。
日 時 ：
9：20～10：40　｢耐候試験機の特徴と高照度試験方法｣
10：50～12：00　｢防食塗装システムと最新の国際規格の動向｣
会 場 ： セミナー会場 B

多くのお客様にご来場頂きありがとうございました。
厚く御礼申し上げます。